概觀下世代行動裝置設計驗證
日期 2021/07/22 ~ 2021/07/22
本研討會Rohde & Schwarz的專家將針對高速數位界面的驗證所面臨棘手的電路板De-embedding議題，為使用者帶來新穎眼圖的測試解決方案。並為用者解析jitter分析在高度整合的系統中如何協助研發者debugging。在USB、SATA、MIPI等驗證方案，Rohde & Schwarz亦提出便捷的自動化測試及自動報告軟體，令研發工程師能輕鬆有效的完成繁瑣的測試步驟。電源工程師關注的電源完整性，該如何選用設備以及其對應的probe，並善用量測功能進而分析除錯，亦為本次研討會重點！機會難得，不
